X-straalfluoressensiespektrometer
Kwaliteit en Tegniese Toesigburo (Omgewingsrichtlijn)
RoHS/Rohs (China)/ELF/EN71
Speelgoed
Papier, keramiek, verf, metaal, ens.
Elektriese en elektroniese materiaal
Halfgeleiers, magnetiese materiale, soldeersel, elektroniese onderdele, ens.
Staal, nie-ysterhoudende metale
Allooie, edelmetale, slak, erts, ens.
chemiese industrie
Minerale produkte, chemiese vesels, katalisators, coatings, verf, skoonheidsmiddels, ens.
omgewing
Grond, voedsel, industriële afval, steenkoolpoeier
Olie
Olie, smeerolie, swaar olie, polimeer, ens.
ander
Bedekkingsdiktemeting, steenkool, argeologie, materiaalnavorsing en forensiese ondersoek, ens.
● Drie verskillende tipes X-straal-bestraling veiligheid stelsels, sagteware grendels, hardeware grendels, en meganiese grendels, sal straling lekkasie heeltemal uitskakel onder enige werkende toestand.
● Die XD-8010 beskik oor 'n uniek ontwerpte optiese pad wat afstande tussen die X-straalbron, monster en detektor minimaliseer terwyl die buigsaamheid behou word om tussen 'n verskeidenheid filters en kollimators te skakel.Dit verbeter die sensitiwiteit aansienlik en verlaag die opsporingslimiet.
● Die groot volume monsterkamer laat toe dat groot monsters direk ontleed word sonder dat skade of voorafbehandeling nodig is.
● Eenvoudige, een-knoppie analise met behulp van 'n gerieflike en intuïtiewe sagteware-koppelvlak.Professionele opleiding is nie nodig om die basiese werking van die instrument uit te voer nie.
● Die XD-8010 verskaf vinnige elementontleding van elemente van S tot U, met verstelbare ontledingstye.
● Tot 15 kombinasies van filters en kollimators.Filters van verskillende diktes en materiale is beskikbaar, sowel as kollimators wat wissel van Φ1 mm tot Φ7 mm.
● Die kragtige verslagformatering-funksie maak voorsiening vir buigsame aanpassing van die outomaties gegenereerde ontledingsverslae.Die gegenereerde verslae kan in PDF- en Excel-formate gestoor word.Die ontledingsdata word outomaties na elke analise gestoor. Historiese data en statistieke kan te eniger tyd verkry word vanaf 'n eenvoudige navraagkoppelvlak.
● Deur die instrument se monsterkamera te gebruik, kan jy die posisie van die monster relatief tot die fokus van die X-straalbron waarneem.Foto's van die monster word geneem wanneer ontleding begin en kan in die ontledingsverslag vertoon word.
● Die sagteware se spektravergelykingsinstrument is nuttig vir kwalitatiewe analise en materiaalidentifikasie en vergelyking.
● Deur bewese en effektiewe metodes van kwalitatiewe en kwantitatiewe analise te gebruik, kan die akkuraatheid van die resultate verseker word.
● Die oop en buigsame kalibrasiekurwepasfunksie is nuttig vir 'n verskeidenheid toepassings soos die opsporing van skadelike stowwe.
Skadelike element analise metode
| Skadelike stofmiddels | Voorbeeld | |
| Siftingsanalise | Gedetailleerde ontleding | |
| Hg | X-straalspektroskopie | AAS |
| Pb | ||
| Cd | ||
| Cr6 + | X-straalspektroskopie (ontleding van totale Cr) | Ioonchromatografie |
| PBB's / PBDE's | X-straalspektroskopie (ontleding van totale Br) | GC-MS |
Gehaltebestuursproses
Meting van skadelike spoorelement in poliëtileenmonsters, soos Cr, Br, Cd, Hg en Pb.
• Die verskil van gegewe waardes en die werklike waardes van Cr, Br, Cd, Hg en Pb.
Die verskil van gegewe waardes en die werklike waardes van Cr, (Eenheid: ppm)
| Voorbeeld | Gegewe waarde | Werklike waarde (XD-8010) |
| Leeg | 0 | 0 |
| Voorbeeld 1 | 97,3 | 97,4 |
| Voorbeeld 2 | 288 | 309,8 |
| Voorbeeld 3 | 1122 | 1107.6 |
Die verskil van gegewe waardes en die werklike waardes van Br, (Eenheid: ppm)
| Voorbeeld | Gegewe waarde | Werklike waarde (XD-8010) |
| Leeg | 0 | 0 |
| Voorbeeld 1 | 90 | 89,7 |
| Voorbeeld 2 | 280 | 281,3 |
| Voorbeeld 3 | 1116 | 1114.1 |
Die verskil van gegewe waardes en die werklike waardes van Cd, (Eenheid: ppm)
| Voorbeeld | Gegewe waarde | Werklike waarde (XD-8010) |
| Leeg | 0 | 0 |
| Voorbeeld 1 | 8.7 | 9.8 |
| Voorbeeld 2 | 26.7 | 23.8 |
| Voorbeeld 3 | 107 | 107,5 |
Die verskil van gegewe waardes en die werklike waardes og Hg, (Eenheid: ppm)
| Voorbeeld | Gegewe waarde | Werklike waarde (XD-8010) |
| Leeg | 0 | 0 |
| Voorbeeld 1 | 91,5 | 87,5 |
| Voorbeeld 2 | 271 | 283,5 |
| Voorbeeld 3 | 1096 | 1089,5 |
Die verskil van gegewe waardes en die werklike waardes van Pb, (Eenheid: ppm)
| Voorbeeld | Gegewe waarde | Werklike waarde (XD-8010) |
| Leeg | 0 | 0 |
| Voorbeeld 1 | 93,1 | 91,4 |
| Voorbeeld 2 | 276 | 283,9 |
| Voorbeeld 3 | 1122 | 1120,3 |
Die herhaalde metingsdata van monster 3 Cr1122ppm, Br116ppm, Cd10ppm, Hg1096ppm, Pb1122ppm (Eenheid: dpm)
| Cr | Br | Cd | Hg | Pb | |
| 1 | 1128,7 | 1118,9 | 110,4 | 1079,5 | 1109,4 |
| 2 | 1126.2 | 1119,5 | 110,8 | 1072,4 | 1131,8 |
| 3 | 1111,5 | 1115,5 | 115,8 | 1068,9 | 1099,5 |
| 4 | 1122.1 | 1119,9 | 110,3 | 1086,0 | 1103.0 |
| 5 | 1115,6 | 1123,6 | 103,9 | 1080,7 | 1114.8 |
| 6 | 1136,6 | 1113.2 | 101.2 | 1068,8 | 1103.6 |
| 7 | 1129,5 | 1112.4 | 105,3 | 1079,0 | 1108.0 |
| Gemiddeld | 1124,3 | 1117,6 | 108.2 | 1076,5 | 1110,0 |
| Standaard afwyking | 8,61 | 4.03 | 4,99 | 6,54 | 10,82 |
| RSD | 0,77% | 0,36% | 4,62% | 0,61% | 0,98% |
Sekondêre filter vir Pb element (Staal substraat monsters), Monster: Staal (Pb 113ppm)
1.X-straalbestraling vanaf die primêre X-straalbuis, word deur 'n kollimator na die monster bestraal.
2. Primêre X-straal-opwekkingseienskappe van die elemente vervat in die monster X-strale deur die sekondêre kollimator in die detektor
3.Verwerk deur die detektor, wat fluoressensiespektroskopiedata vorm
4. Rekenaarspektroskopie data-analise, kwalitatiewe en kwantitatiewe analise word voltooi
| Model | NB-8010 | |
| Ontleding beginsel | Energieverspreidende X-straalfluoressensie ontleding | |
| Elemente reeks | S (16) | |
| Voorbeeld | Plastiek / metaal / film / soliede / vloeistof / poeier, ens., enige grootte en onreëlmatige vorm | |
| X-straalbuis | Teiken | Mo |
| Buisspanning | (5-50) kV | |
| Buisstroom | (10-1000) en ander | |
| Monster bestraling deursnee | F1mm-F7mm | |
| Filter | 15 stelle saamgestelde filter is outomaties gekies, en die outomatiese omskakeling | |
| Detektor | Invoer uit die Verenigde State Si-PIN detektor | |
| Die dataverwerking stroombaanbord | Invoer uit die Verenigde State, met die gebruik van Si-PIN detektor stelle | |
| Voorbeeld waarneming | Met 300 000 pixel CCD-kamera | |
| Die monsterkamer grootte | 490 (L)´430 (W)´150 (H) | |
| Analise metode | Lineêre lineêre, kwadratiese kodelyne, sterkte en konsentrasie kalibrasie korreksie | |
| Bedryfstelsel sagteware | Windows XP, Windows 7 | |
| Databestuur | Excel-databestuur, toetsverslae, PDF / Excel-formaat gestoor | |
| Werk omgewing | Temperatuur: £30°C. Humiditeit £70% | |
| Gewig | 55 kg | |
| Afmetings | 550´450´395 | |
| Kragtoevoer | AC220V±10%,50/60Hz | |
| Vasberadenheid voorwaardes | Atmosferiese omgewing | |