atoomkrag afm mikroskoop
Atoomkragmikroskoop (AFM), 'n analitiese instrument wat gebruik kan word om die oppervlakstruktuur van soliede materiale, insluitend isolators, te bestudeer.Dit bestudeer die oppervlakstruktuur en eienskappe van 'n stof deur die uiters swak interatomiese interaksie tussen die oppervlak van die monster wat getoets moet word en 'n mikrokragsensitiewe element op te spoor.Sal 'n paar van swak krag uiters sensitiewe mikro-cantilever einde vas, die ander kant van die klein punt naby aan die monster, dan sal dit in wisselwerking met dit, sal die krag die mikro-cantilever vervorming of beweging toestand veranderinge.Wanneer die monster geskandeer word, kan die sensor gebruik word om hierdie veranderinge op te spoor, ons kan die verspreiding van kraginligting kry om die oppervlakmorfologie van nano-resolusie-inligting en oppervlakruwheidsinligting te verkry.
★ Geïntegreerde skanderingsonde en monsterstag het die anti-interferensievermoë verbeter.
★ Presisie laser en sonde posisionering toestel maak die verandering van die sonde en die aanpassing van die plek eenvoudig en gerieflik.
★ Deur gebruik te maak van die monster-sonde benaderingswyse, kan die naald loodreg op die monsterskandering wees.
★ Outomatiese pulsmotoraandrywing beheer monster sonde vertikale nader, om presiese posisionering van die skandering area te bereik.
★ Monster skandering area van belang kon vrylik beweeg deur die gebruik van die ontwerp van hoë presisie monster mobiele toestel.
★ CCD-waarnemingstelsel met optiese posisionering bereik intydse waarneming en posisionering van die sondemonsterskanderingsarea.
★ Die ontwerp van elektroniese beheerstelsel van modularisering het instandhouding en voortdurende verbetering van kring vergemaklik.
★ Die integrasie van verskeie skandering af beheer kring, saam met sagteware stelsel.
★ Veervering wat eenvoudig en prakties verbeterde anti-inmenging vermoë.
| Werkmodus | FM-Tap, opsionele kontak, wrywing, fase, magneties of elektrostaties |
| Grootte | Φ≤90mm,H≤20 mm |
| Skanderingreeks | 20 mmmin XY-rigting,2 mm in Z-rigting. |
| Skandeerresolusie | 0.2nm in XY-rigting,0.05nm in Z-rigting |
| Bewegingsreeks van monster | ±6,5 mm |
| Polswydte van die motor nader | 10±2ms |
| Beeldsteekproefpunt | 256×256,512×512 |
| Optiese vergroting | 4X |
| Optiese resolusie | 2,5 mm |
| Skandeertempo | 0.6Hz~4.34Hz |
| Skandeerhoek | 0°~360° |
| Skandeerbeheer | 18-bis D/A in XY rigting,16-bis D/A in Z-rigting |
| Datasteekproefneming | 14-bitA / D,dubbel16-bis A/D multi-kanaal sinchrone steekproefneming |
| Terugvoer | DSP digitale terugvoer |
| Terugvoersteekproeftempo | 64.0KHz |
| Rekenaar koppelvlak | USB 2.0 |
| Bedryfsomgewing | Windows 98/2000/XP/7/8 |